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GB/T 6624-2009   硅抛光片表面质量目测检验方法 (英文)
标准编号: GB/T 6624-2009 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
标准编号: GB/T 6624-2009
中文名称: 硅抛光片表面质量目测检验方法
英文名称: Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
行业分类: GB    国家标准
发布机构: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国家标准化管理委员会
发布日期: 2009-10-30
实施日期: 2010-6-1
标准状态: valid
替代旧标准:GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
翻译字数: 6000 字
交付时间: 1~3 个工作日
GB/T 6624-2009 引用如下标准:
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