标准编号:	GB/T 14184-1993
中文名称:	变像管和像增强管测试方法
英文名称:	The methods of measurement for imageconverter tubes and image intensifier tubes
中标分类:	L39    其他电真空器件
行业分类:	GB    国家标准
ICS分类:	31.120 31.120    电子显示器件 31.120
发布机构:	国家技术监督局
发布日期:	1993-02-20
实施日期:	1993-10-1
标准状态:	现行
替代旧标准:	作废
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	13000 字
翻译价格(元):	1960.00 元
交付时间:	付款后 1 个工作日

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The methods of measurement for image converter tubes and image intensifier tubes



1 Subject content and applicable scope



This standard specifies the test conditions and methods for photoelectric parameters of image converter tubes and image intensifier tubes (hereinafter referred to as electronic tubes).



This standard is applicable to the photoelectric parameter test of image converter tube (including X-ray image intensifier tube) and image intensifier tube and its components.



2 Test conditions



2.1 Environmental conditions



Unless otherwise specified, the environmental conditions for the test shall meet the normal test atmospheric conditions (temperature of 15–35°C, relative humidity of 45%–75% and air pressure of 86–106 kPa) specified in GB 2421 Basic environmental testing procedures for electric and electronic products—General and guidance.



2.2 Test equipment



2.2.1 Test room



Photocathode is sensitive to radiation, so the test room of electronic tube shall be able to shield external radiation. The selection of test room materials (including paint and any opaque plastic or laminated plate) shall also ensure that they are in the invisible light region of the spectrum and do not affect the accuracy of the test.



The test shall be provided with devices for shielding magnetic and electric fields.



For the test device, the input and output optical axes of the electronic tube shall be positioned.



2.2.2 Filter



The performance of the filter shall not affect the test of photoelectric parameters of the electronic tube.



a. Neutral filter



The spectral transmittance of neutral filters in the specified wavelength range shall be specified in the detailed specification.



b. Monochromatic filter



The minimum peak transmittance, the bandwidth and peak wavelength at 50% (or 10%) peak transmittance, and the maximum transmittance in the specified band outside the passband of the monochromatic filter shall be specified in the detailed specification.



2.2.3 Diffuser



The spectral transmittance and spatial distribution of luminous intensity of diffusers shall be specified in the detailed specification.



2.2.4 Light source



Monochromatic light source is preferred. When a monochromatic light source is not required, a tungsten lamp calibrated by a light source (standard A light source) with a color temperature of 2,856 ± 20K shall be used, except that the test method allows a wide range of color temperature.



The maximum allowable divergence angle of light beam shall be specified in the detailed specification.



3 Photoelectric parameter test



3.1 Photocathode sensitivity



3.1.1 Definition



3.1.1.1 Luminous sensitivity



The quotient of the photocurrent divided by the incident luminous flux.



3.1.1.2 Irradiation sensitivity



The quotient of the photocurrent divided by the radiant power.



3.1.2 Test procedure



Apply a specified voltage between the cathode of the electronic tube and other connected electrodes, evenly irradiate the specified area of the photocathode with the specified luminous flux or radiant power parallel to the input optical axis, and use the specified filter. Measure the cathode current when there is irradiation and no irradiation.



The photocathode sensitivity shall be calculated using Equation (1):



(1)



where,



——the luminous flux or radiant power, lm or W;



I1——the cathode current when there is irradiation (including leakage current and dark current of photocathode), μA or mA;



I2——the cathode current when there is no irradiation (including leakage current and dark current of photocathode), μA or mA;



When the sensitivity is calculated, the luminous flux or radiant power is used to obtain the luminous sensitivity (μA/lm) or radiation sensitivity (mA/W) respectively.



This test is only applicable to electronic tubes that can be connected to each electrode.



Conditions to be specified in the detailed specification:



Working conditions of electronic tubes;



Irradiated area of the photocathode;



Voltage between the photocathode and other electrodes connected together;



Luminous flux and (or) radiant power;



Characteristics of light source (see 2.2.4);



Filter requirements (see 2.2.2).



3.2 Equivalent background illuminance



3.2.1 Definition



The incident illuminance when the output luminance is increased to twice the average background luminance generated only by the dark current of the electronic tube.



 

3.2.2 Test procedure



Apply voltage to each electrode of the electronic tube according to requirements specified in the detailed specification, do not apply light to the photocathode, and measure the average luminance of the specified area of the fluorescent screen in the direction of the output optical axis with the specified luminance meter after the specified stabilization time, and record the reading.



Use the light parallel to the input optical axis and with the specified illuminance emitted by the specified light source to evenly irradiate the specified area on the photocathode, and record the reading of the luminance meter, then the equivalent background illuminance shall be calculated using Equation (2):



(2)



where,



R1——the reading of the luminance meter when the photocathode is not illuminated;



R2——the reading of the luminance meter when the photocathode is illuminated;



E——the illuminance of photocathode.



Unless otherwise specified in the detailed specification, since the reading R1 or R2 fluctuates, it shall be observed for 30s, and then read R1 and R2.



Conditions to be specified in the detailed specification:



Working conditions of electronic tubes;



Stabilization time (when there is no light);



Illuminated area of the photocathode;



Illuminance of photocathode;



Area of measured luminance of fluorescent screen;



Characteristics of luminance meter (dark current, linearity);



Characteristics of light source (see 2.2.4) and the maximum divergence angle.

 

3.3 Luminance gain or radiation gain



3.3.1 Definition



3.3.1.1 Luminance gain



The quotient obtained by dividing the output average luminance within the specified area of the fluorescent screen by the uniform illuminance of the specified spectral distribution within the specified area on the photocathode.



3.3.1.2 Radiation gain



The quotient obtained by dividing the average radiance of the specified spectral distribution within the specified area of the fluorescent screen by the uniform irradiance of the specified spectral distribution within the measured area projected onto the photocathode.



3.3.2 Test procedure



Uniformly irradiate the specified area of the photocathode with the specified illuminance or irradiance of the specified light source parallel to the input optical axis. Apply voltage to each electrode of the electronic tube according to requirements specified in the detailed specification. After the specified stabilization time, measure the luminance or radiance within the specified area of the fluorescent screen with the specified luminance meter or radiometer. The luminance gain or radiation gain shall be calculated using the following equation:



(3)



where,



L——the luminance or radiance, cd/m2 or W/(sr·m2);



E——the illuminance or irradiance, lx or W/m2.



In calculation, luminance gain is obtained from luminance and illuminance, and radiation gain is obtained from radiance and irradiance.



The luminance gain and radiation gain may also be calculated using the following equation:



(4)



 

Conditions to be specified in the detailed specification:



Working conditions of electronic tubes;



Characteristics of light source (see 2.2.4) and the maximum divergence angle;



Illuminance or irradiance of photocathode;



Illuminated area of the photocathode;



Corresponding spectral sensitivity and receiving angle of luminance meter or radiometer;



Stabilization time;



Area of measured luminance or radiance on the fluorescent screen.



3.4 Reverse working voltage



3.4.1 Definition



The ability of the electronic tube to withstand reverse power supply voltage.



3.4.2 Test procedure



Uniformly illuminate the whole area of photocathode to reach the specified illuminance, which can be zero. Apply the specified reverse voltage to the specified connection end of the electronic tube for the specified time. After the voltage is removed, at the end of the specified recovery time, the test shall be carried out according to the detailed specification.



This test is only applicable to electronic tubes with combined power supply.



Conditions to be specified in the detailed specification:



Illuminance of photocathode;



Reverse working voltage;



Duration of applying reverse voltage;



Recovery time;



Test requirements after applying reverse working voltage.



 

3.5 Uniformity of output luminance



3.5.1 Definition



The spatial change of the output luminance of the fluorescent screen under the specified incident light, which is generally expressed by the ratio of the maximum and minimum output luminance.



3.5.2 Test procedure



Uniformly irradiate the whole area of the photocathode with the specified light source and illuminance parallel to the input optical axis. Apply voltage to each electrode of the electronic tube according to the detailed specification, and visually detect the obvious non-uniformity of the luminance of the fluorescent screen. Then, use the luminance meter to measure the output luminance change in the specified area on the fluorescent screen, which can be shown in a chart.



Conditions to be specified in the detailed specification:



Working conditions of electronic tubes;



Tested area of the fluorescent screen;



Light source characteristics (see 2.2.4);



Illuminance of photocathode;



Spectral sensitivity and receiving angle of luminance meter.



3.6 Limit working voltage



3.6.1 Definition



The ability of the electronic tube to withstand limit working voltage.



3.6.2 Test procedure



Irradiate the whole area of the photocathode with the light of the specified illuminance, which can be zero. Apply the working voltage to the electronic tube and adjust it to the specified limit voltage value. Observe the fluorescent screen within the specified time, and bright spot, stripe, flash or defects of other shapes with higher luminance than the average background are not allowed. At the end of the specified observation time, after the limit voltage is removed, the test shall be carried out according to the detailed specification.



Conditions to be specified in the detailed specification:



Illuminance of photocathode;



Working conditions of electronic tubes;



Limit working voltage;



Duration of observation period;



Test requirements after applying limit working voltage.



3.7 Input current



3.7.1 Definition



The current flowing through the input circuit when the electronic tube works.



3.7.2 Test procedure



Apply voltage to each electrode of the electronic tube according to the detailed specification, and evenly irradiate the whole area of the photocathode with the light of the specified illuminance, which can be zero. Measure the average or peak current flowing through the input end.



Conditions to be specified in the detailed specification:



Working conditions of electronic tubes;



Illuminance of photocathode;



Input impedance of power supply (if applicable);



Measure the resistance of the circuit (if applicable).



3.8 Modulation transfer function



3.8.1 Definition



The relationship between modulation transfer factor and spatial frequency. The modulation transfer factor is the ratio of the modulation depth of the output image to the modulation depth of the input image when a sine wave pattern is transferred at a certain spatial frequency.

1 Subject content and applicable scope
2 Test conditions
3 Photoelectric parameter test

中华人民共和国国家标准
GB/T 14184—93



变像管和像增强管测试方法
The methods of measurement for image-
Converter tubes and image intensifier tubes




国家技术监督局1993-02-20批准 1993-10-01实施
1 主题内容与适用范围
本标准规定了变像管和像增强管(以下简称电子管)的光电参数测试条件和测试方法。
本标准适用于变像管(包括X射线像增强管)和像增强管及其组件的光电参数测试。
2 测试条件
2.1 环境条件
除非另有规定，测试的环境条件应符合GB 2421《电工电子产品基本环境试验规程 总则》规定的正常试验大气条件(温度15～35℃，相对湿度45％～75％和气压86～106kPa)。
2.2 测试设备
2.2.1 测试室
光电阴极对辐射灵敏，电子管的测试室应能屏蔽外界辐射。选择测试室材料(包括油漆和任何不透明塑料或叠层板)时，还应保证在光谱的不可见光区，也不影响测试的准确性。
应具备屏蔽磁场和电场的装置。
测试装置应保证电子管的输入和输出光轴可以定位。
2.2.2 滤光片
滤光片的性能应不影响电子管光电参数的测试。
a.中性滤光片
中性滤光片在规定波长范围内的光谱透射比应在详细规范中规定。
b.单色滤光片
单色滤光片的最低峰值透射比、50％(或10％)峰值透射比处的带宽、峰值波长以及在通带外规定波段内的最大透射比应在详细规范中规定。
2.2.3 漫射器
漫射器的光谱透射比和发光强度的空间分布应在详细规范中规定。
2.2.4 光源
优先采用单色光源。当不要求单色光源时，除了测试方法允许有较宽的色温范围之外，应采用经色温为2856±20K光源(标准A光源)校准的钨灯。
光束的最大允许发散角应在详细规范中规定。
3 光电参数测试
3.1 光电阴极灵敏度
3.1.1 定义
3.1.1.1 光照灵敏度
光电流除以入射光通量所得的商。
3.1.1.2 辐照灵敏度
光电流除以入射辐射功率所得的商。
3.1.2 测试程序
在电子管的阴极和其他连接在一起的电极之间加规定的电压，用规定的光通量或辐射功率平行于输入光轴均匀地照射光电阴极规定的面积，并采用规定的滤光片。测量辐照时和未辐照时的阴极电流。
光电阴极灵敏度按式(1)计算：
(1)
式中：——光通量或辐射功率，lm或W；
I1——辐照时的阴极电流(包括漏电流和光电阴极的暗电流μA)，或mA；
I2——未辐照时的阴极电流(包括漏电流和光电阴极的暗电流)，μA或mA。
在计算灵敏度时，采用光通量或辐射功率分别地得出光照灵敏度(μA/lm)或辐射灵敏度(mA/W)。
本试验只适用于那些可以连通各电极的电子管。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
光电阴极被辐照的面积；
光电阴极和其他连在一起的电极之间的电压；
光通量和(或)辐射功率；
光源特性(见2.2.4条)；
滤光片要求(见2.2.2条)。
3.2 等效背景照度
3.2.1 定义
使输出亮度增加到等于仅由于电子管暗电流而产生的平均背景亮度二倍时的入射光照度。
3.2.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，在光电阴极上不加光照，并在规定的稳定时间之后，用规定的亮度计测量输出光轴方向上荧光屏规定面积内的平均亮度，记下亮度计的读数。
用规定光源发出的平行于输入光轴并具有规定照度的光，均匀地照射在光电阴极上规定的面积，记录亮度计的读数，则等效背景照度按式(2)计算：
(2)
式中：R1——光电阴极未加光照时，亮度计的读数；
R2——光电阴极加光照时，亮度计的读数；
E——光电阴极的照度。
除非详细规范中另有规定，由于读数R1或R2有波动，应观测30秒，读取R1和R2。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
稳定的时间(无光照时)；
光电阴极被光照的面积；
光电阴极的照度；
荧光屏被测亮度的面积；
亮度计的特性(暗电流、线性度)；
光源特性(见2.2.4条)和最大发散角。
3.3 亮度增益或辐射增益
3.3.1 定义
3.3.1.1 亮度增益
荧光屏规定面积内的输出平均亮度除以光电阴极上规定面积内规定光谱分布的均匀照度所得之商。
3.3.1.2 辐射增益
荧光屏规定面积内、规定光谱分布的平均辐射度除以投射到光电阴极上被测面积内、规定光谱分布的均匀辐照度所得之商。
3.3.2 测试程序
用规定光源的规定照度或辐照度平行于输入光轴均匀地照射光电阴极的规定区域。按详细规范规定对电子管各电极加电压。在规定的稳定时间之后，用规定的亮度计或辐射计测量荧光屏规定区域内的亮度或辐射度。其亮度增益或辐射增益按下式计算：
(3)
式中：L——亮度或辐射度，cd/m2或W/(sr·m2)；
E——照度或辐照度，lx或W/m2。
计算时，由亮度和照度求得亮度增益，由辐射度和辐照度求得辐射增益。
亮度增益和辐射增益还可以按下式计算：
(4)
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
光源特性(见2.2.4条)和最大发散角；
光电阴极的照度或辐照度；
光电阴极被照射的面积；
亮度计或辐射计的相应光谱灵敏度和接收角；
稳定的时间；
荧光屏上被测亮度或辐射度的面积。
3.4 反向工作电压
3.4.1 定义
电子管耐反向电源电压的能力。
3.4.2 测试程序
在光电阴极整个面积上均匀地照明，使之达到规定的照度，该照度可以为零。在电子管的规定连接端加上规定的反向电压，并持续规定的时间。撤除电压后，在规定的恢复时间终了，按详细规范规定进行检测。
本试验只适用于带组合电源的电子管。
在详细规范中应规定的条件：
光电阴极的照度；
反向工作电压；
加反向电压的持续时间；
恢复时间；
加反向工作电压后的检测要求。
3.5 输出亮度的均匀性
3.5.1 定义
在规定的入射光照下，荧光屏输出亮度的空间变化，一般用输出亮度最大值和最小值之比来表示。
3.5.2 测试程序
用规定的光源和照度平行于输入光轴均匀地照射光电阴极整个面积。按详细规范规定对电子管各电极加上电压，用目测法检测荧光屏亮度明显的不均匀性。再用亮度计测量荧光屏上规定区域内输出亮度变化量，这个变化量可以采用图表表示出来。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
荧光屏被检测的面积；
光源特性(见2.2.4条)；
光电阴极的照度；
亮度计的光谱灵敏度和接收角。
3.6 极限工作电压
3.6.1 定义
电子管耐极限工作电压的能力。
3.6.2 测试程序
用规定照度的光照射光电阴极整个面积，这个照度可以为零。电子管加上工作电压并调节到规定的极限电压值。在规定的时间内观察荧光屏，不允许出现明亮的光斑、条纹、闪光和比平均背景亮度更强的其他形状的缺陷。在规定的观测时间终了，撤除极限电压后，按详细规范规定进行检测。
在详细规范中应规定的条件：
光电阴极的照度；
电子管的工作条件；
极限工作电压；
观测期的持续时间；
加极限工作电压后的检测要求。
3.7 输入电流
3.7.1 定义
电子管工作时，流过输入电路的电流。
3.7.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，用规定照度的光均匀地照射光电阴极整个面积，该照度可以为零。测量流过输入端的平均电流或峰值电流。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
光电阴极的照度；
供电电源的输入阻抗(如适用)；
测量回路的电阻(如适用)。
3.8 调制传递函数
3.8.1 定义
调制传递因数与空间频率之间的关系。调制传递因数是在某一空间频率下，传递正弦波图案时，输出图像调制深度与输入图像调制深度的比值。
3.8.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压。用规定的光源和照度照射，将规定尺寸的狭缝图案聚焦于电子管的光电阴极的规定区域内。用合适的物镜将荧光屏上的像聚焦于像分析器上。分析器的正弦波图案以一定的速度扫描狭缝像，对输出图像进行付立叶卷积。用规定的光电倍增管接收卷积信号，得到相应于各不同空间频率的实时信号。用和各不同空间频率的基频相匹配的带通滤波器对各卷积信号实时滤波来分析光电倍增管的输出，得到各空间频率下输出信号的峰值振幅，对最低空间频率信号的峰值振幅归一。
本试验主要适用于放大率为1的电子管。
在详细规范中应规定的条件是：
电子管的工作条件；
光源特性(见2.2.4条)；
狭缝图案的尺寸；
狭缝图案在光电阴极面上的照度；
光电阴极被照的面积；
正弦波图案；
光电倍增管的光谱灵敏度；
物镜特性。
3.9 像对准
3.9.1 定义
光输入中心在输出荧光屏上的像和输出中心之间的距离。
3.9.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压。使测试显微镜与电子管的输出光轴对准。将一个测试光点(一般是十字线的交点)投射到电子管的输入中心。观测光点在屏上所成的图像，并测量它与输出中心的距离。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
测试光点的形状和尺寸。
3.10 像位移
3.10.1 定义
由于电源通断而引起图像位置的变化。
3.10.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，使电子管输出光轴与测试显微镜对准。将测试光点(一般是十字线的交点)投射到电子管的输入中心。观测荧光屏上光点的图像并记下它的位置。断开电源并按照详细规范中规定的程序放电，然后重新供电，并在规定的稳定时间之后再测量该光点图像的位置。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
测试光点的形状和尺寸；
重新供电后的稳定时间；
电子管的放电程序。
3.11 像漂移
3.11.1 定义
图像在规定时间内的移动。
3.11.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压。将测试光点(一般是十字线的交点)投射到电子管的输入中心，在规定的稳定时间之后，使测试显微镜对准测试光点的图像，当电子管在规定的工作条件下经过规定的漂移时间之后，测量此试验光点的图像与原有位置之间的偏移。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
测试光点的形状和尺寸；
稳定时间；
漂移时间。
3.12 分辨率
3.12.1 定义
电子管分辨规定图像明暗细节的能力。
3.12.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，通过一光学系统，在光电阴极规定的面积上投射规定的测试图，此光学系统不得明显地降低测试图的清晰度。然后用合适的放大镜观测荧光屏，并调整规定光源的照度，以获得最好的图像对比度。此时，应能辨认出测试图的单根线条。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件：
光电阴极面上投射测试图的区域；
测试图；
光源特性；
放大镜的放大倍数。
3.13 荧光屏的最大亮度
3.13.1 定义
在规定的光电阴极照度范围内，荧光屏规定区域内亮度的最大值。
3.13.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，用规定光源以规定的最小照度均匀照射光电阴极整个面积。在所规定的照度范围内缓慢地增加照度，在输出光轴方向上用规定的亮度计测量荧光屏规定区域内的亮度，并记下最大亮度值和这个最大值所对应的光电阴极的照度。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
荧光屏被测的区域；
光电阴极照度的范围；
光源特性(见2.2.4条)；
亮度计的光谱灵敏度与接收角。
3.14 残余气体
3.14.1 定义
电子管内残余气体的量。
3.14.2 测试程序
紧贴光电阴极放置一个规定直径的不透光圆盘，并与输入光轴同心。紧贴荧光屏放置一个规定直径的圆形孔阑，并与输出光轴同心。按详细规范规定对电子管各电极加上电压，以规定的照度照射光电阴极，并用规定的放大镜观察荧光屏，在荧光屏的中心，不应有扩散的光斑(离子斑)或亮度较高的区域。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
光电阴极的照度；
放大镜的放大倍数；
不透光圆盘的直径；
荧光屏上圆形孔阑的直径(应比不透光圆盘在荧光屏上产生的像稍小)。
3.15 输出寄生信号
3.15.1 定义
亮度明显高于平均背景亮度并引起乱真输出信号的缺陷。
3.15.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，在光电阴极无辐照情况下，如果需要可采用合适的放大镜仔细观察荧光屏上规定的区域。不允许出现明亮的光斑、条纹、闪光以及高于平均背景亮度的其他形状亮缺陷。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
荧光屏被检查的区域；
观测条件。
3.16 光电阴极和荧光屏缺陷
3.16.1 定义
荧光屏上亮度分布的局部不完善性。
3.16.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，以一定的照度均匀照射光电阴极，并用规定的放大镜观察荧光屏，在规定的范围内调节光电阴极照度，使缺陷对比度最大，按详细规范规定检验缺陷。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
放大镜的放大倍数；
光电阴极照度范围；
缺陷的规范。
3.17 放大率
3.17.1 定义
荧光屏上输出图像尺寸与光电阴极上输入图像尺寸之比。
3.17.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，在电子管的光电阴极上，投射一个规定直径并与电子管输入光轴同心的圆。在光电阴极上采用合适的照度。使用测量显微镜来测定圆在荧光屏上所成像的直径。电子管的放大率为输出图像直径与输入图像直径之比。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
投射圆直径及其公差。
3.18 畸变
3.18.1 定义
放大率随输入图像直径的变化。
3.18.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，并按照3.17条测量两个不同直径投射圆的放大率。畸变按下式计算：
(5)
式中：Md——小直径投射圆的放大率；
MD——大直径投射圆的放大率。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
小投射圆直径及其公差；
大投射圆直径及其公差。
3.19 光电阴极有效直径
3.19.1 定义
光电阴极上与输入光轴同心的最大圆的直径，该圆应在荧光屏上完整成像。
3.19.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，在光电阴极上投射规定直径的圆或不透明圆盘的测试图，这个圆或圆盘应与输入光轴同心，如有规定，可用放大镜来观察荧光屏，调节光电阴极照度使图像对比度最佳，该圆或圆盘像的整个边缘轮廓线应清晰可见。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
圆或圆盘的直径。
3.20 像旋转
3.20.1 定义
输出图像相对于输入图像的旋转角。
3.20.2 测试程序
紧贴光电阴极放置规定孔阑的圆盘，使孔阑与输入中心同心。按详细规范规定对电子管各电极加上电压。在光电阴极上投射十字线图像，使其交点与电子管输入中心重合。用合适的具有十字线标度的低倍显微镜观察输出荧光屏。在四个象限中，测量相对于输入图像的输出图像最大旋转角(见图1)。

在光电阴极上，图像的直线
在输出荧光屏上，图像的直线
孔阑直径
图1
本试验适用于磁聚焦电子管。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
孔阑的直径(一般规定为光电阴极最小直径的10％)。
3.21 “S”形畸变
3.21.1 定义
输出图像相对于输入直线图像变成“S”形的几何畸变。
3.21.2 测试程序
紧贴光电阴极放置规定孔阑的圆盘，使孔阑与输入中心同心。按详细规范规定对电子管各电极加上电压。在光电阴极上投射十字线图像，使其交点与电子管的输入中心重合。用合适的具有十字线标度的低倍显微镜观察输出荧光屏，测量每一个象限中的S和R(见图1和图2)。这两个角度的最大差值|S－R|即为“S”形畸变。

在光电阴极上，图像的直线
在输出荧光屏上，图像的直线
孔阑直径
图2
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
孔阑的直径(通常规定为光电阴极最小直径的80％)。
3.22 转换因数
3.22.1 定义
X射线像增强管输出荧光屏中心区亮度与入射面中心处的X射线剂量率之比。
3.22.2 测试原理
测试原理图如图3所示。

被测管
附加过滤器
X射线管
亮度计
X射线屏蔽板
图3
L1—被测管入射面与X射线管焦点的距离；L2—附加过滤器与X射线管焦点的距离
3.22.3 测试程序
使电子管的入射面中心与X射线管焦点的距离为规定值。距X射线管焦点规定距离以内放置一规定的附加过滤器，调节X射线管阳极电压。使电子管入射面的X射线线质(第一半阶层)达到规定值。固定X射线管阳极电压，调节X射线管的阳极电流，使电子管入射面中心处的X射线剂量率达到规定值，辐照电子管整个有效面积。
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，用亮度计测量输出荧光屏规定区域内的平均亮度，转换因数按下式计算：
(6)
式中：GX——转换因数，cd·m－2·C－1·kg·s(cd·m－2·mR－1·s)；
L——输出荧光屏平均亮度，cd·m－2；
P——X射线剂量率，C·kg－1·s－1(mR·s－1)。
在详细规范中应规定的条件：
电子管工作条件；
电子管入射面中心与X射线管焦点间距离；
附加过滤器至X射线管焦点距离；
附加过滤器的材料厚度、纯度；
X射线管焦点与入射面之间的总滤过量；
X射线线质(第一半阶层)；
X射线剂量率；
输出荧光屏测量区域；
X射线管电压波纹系数；
亮度计光谱灵敏度与接收角。
3.23 对比率
3.23.1 定义
电子管入射面中心区前未放置与放置X射线遮挡物时的输出荧光屏中心亮度值之比。
3.23.2 测试原理图
测试原理图如图4所示。

电子管
X射线管
X射线遮挡物
亮度计
X射线屏蔽板
图4
l——被测管入射面中心与X射线管焦点的距离
3.23.3 测试程序
使电子管入射面中心至X射线管焦点距离为规定值，X射线管加规定的阳极电压、电流，使X射线束辐照电子管整个有效面积。按详细规范规定在电子管各电极上加电压，用亮度计分别测出入射面有无X射线遮挡圆盘时输出荧光屏中心区域的亮度，圆盘中心应和荧光屏中心重合。对比率按下式计算：
(7)
式中：L1——放置X射线遮挡圆盘时输出荧光屏亮度，cd·m－2；
L2——未放置遮挡圆盘时输出荧光屏亮度，cd·m－2。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
电子管入射面中心与X射线管焦点间距离；
X射线遮挡圆盘的材料、直径和厚度；
X射线管阳极电压和电流；
输出荧光屏被测区域；
亮度计光谱灵敏度和接收角。
3.24 固定图案噪声
3.24.1 定义
3.24.1.1 复丝间固定图案噪声
荧光屏显示的相邻复丝间亮度差异。
3.24.1.2 复丝边界固定图案噪声
荧光屏显示的复丝内部与边界间的亮度差异。
3.24.2 测试程序
按详细规范规定对电子管各电极加上电压，以规定照度的光均匀照射整个光电阴极，用规定的放大镜观察荧光屏上复丝图像的亮度变化。
在复丝间亮度差异最明显的区域测量复丝间固定图案噪声。用规定孔径的扫描亮度计测量对比度最大的相邻复丝间的亮度，复丝间固定图案噪声按下式计算：
(8)
式中：L——复丝间的亮度差；
——亮度平均值。
在复丝内部与边界间亮度差异最明显的区域测量复丝边界固定图案噪声。用规定孔径的扫描亮度计测量三个相邻复丝的边界和内部的亮度，复丝边界固定图案噪声按下式计算：
(9)
式中： ——复丝边界亮度的平均值；
——相邻复丝亮度的平均值。
在详细规范中应规定的条件：
电子管的工作条件；
光电阴极的照度；
放大镜的倍数；
扫描亮度计的孔径，光谱灵敏度。
3.25 信噪比
3.25.1 定义
在规定的电子测量系统带宽内，电子管输出信号的平均值与输出信号中噪声均方根值之比。
3.25.2 测试程序
用规定的光源、规定的照度均匀照射光电阴极上规定面积，按详细规范规定对电子管各极加上电压，用规定的透镜和规定的采样孔径，将荧光屏上输出像聚焦在规定的光电倍增管上，光电倍增管的输出电流通过规定的低通滤波器。用直流电流计测光电倍增管的输出电流，用均方根电流计测低通滤波器的输出电流。
在无输入辐照时，应用相同方法测电子管背景信号电流和背景信号电流中噪声均方根值。
电子管的信噪比按下式计算：
(10)
式中：K——规化系数；

S——输出信号电流，μA；
B——背景信号电流，μA；
σS——输出噪声电流均方根值，μA；
σB——背景噪声电流均方根值，μA；
NEB——测量系统的实际噪声等效带宽，Hz；
BF——规定的低通滤波器噪声等效带宽(大约10Hz)。
在详细规范中应规定的条件：
电子管工作条件；
光源特性(见2.2.4条)；
光电阴极上的照度；
光电阴极被照面积；
透镜特性和采样孔径；
光电倍增管特性；
电子低通滤波器的噪声等效带宽。
附加说明：
本标准由中华人民共和国机械电子工业部提出。