标准编号:	YS/T 981.1-2014
中文名称:	高纯铟化学分析方法 镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定 高质量分辨率辉光放电质谱法
英文名称:	Methods for chemical analysis of high purity indium―Determination of magnesiumaluminumsiliconsulphurironnickelcopperzinc,arsenic,silver,cadmium,tin,thallium,lead content―High mass resolution glow discharge mass specrometry
中标分类:	H17    半金属及半导体材料分析方法
行业分类:	YS    有色金属行业标准
ICS分类:	77.040.30 77.040.30    金属材料化学分析 77.040.30
发布机构:	工业和信息化部
发布日期:	2014-10-14
实施日期:	2015-4-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	YS/T 981.1-2024 高纯铟化学分析方法 第1部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
被替代日期:	2025-5-1
作废日期:	2025-05-01
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
翻译字数:	11000 字
交付时间:	1~3 个工作日

本部分规定了用高质量分辨率辉光放电质谱法测定99.999%以上高纯铟中镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅元素含量的方法。
本部分适用于高纯铟中镁、铝、硅、硫、铁、镍、铜、锌、砷、银、镉、锡、铊、铅的测定，各元素测定范围: 5.0×10-7%～1.0×10-3%。