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T/ZSA 231-2024   氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 (英文版)
标准编号: T/ZSA 231-2024 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
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实施日期:2024-5-16 交付时间:
标准编号: T/ZSA 231-2024
中文名称: 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
英文名称: Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of Ga2O3 single crystal substrate
中标分类: H21    金属物理性能试验方法
行业分类: T/    团体标准
ICS分类: 29.045 29.045    半导体材料 29.045
发布机构: 中关村标准化协会
发布日期: 2024-05-15
实施日期: 2024-5-16
标准状态: valid
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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