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GB/T 46227-2025 半导体单晶材料透过率测试方法 980.0 付款后 1~3 个工作日 to be valid
GB/T 20831-2025 电工钢带(片)绝缘涂层热耐久性测试方法 1260.0 付款后 1~3 个工作日 to be valid
GB/T 5161-2025 金属粉末 有效密度的测定 液体浸透法 1260.0 付款后 1~3 个工作日 to be valid
GB/T 19444-2025 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法 980.0 付款后 1~3 个工作日 to be valid
GB/T 6148-2025 精密电阻合金电阻温度系数测试方法 980.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 6147-2025 精密电阻合金热电动势率测试方法 980.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 41079.3-2024 液态金属物理性能测定方法 第3部分:黏度的测定 980.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 44558-2024 III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法 1260.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 44371-2024 临界弯曲直径测量 液氮温区Bi-2223超导带材的临界弯曲直径测量 1470.0 付款后 1~5 个工作日 valid
GB/T 44330-2024 锂离子电池正极材料 粉末压实密度的测定 980.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 24578-2024 半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法 1470.0 付款后 1~5 个工作日 valid
GB/T 43894.1-2024 半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD) 910.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 43315-2023 硅片流动图形缺陷的检测 腐蚀法 910.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 43313-2023 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法 910.0 付款后 1~3 个工作日 valid
T/ZSA 231-2024 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 付款后 个工作日 valid
GB/T 23365-2023 钴酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法 770.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 43092-2023 锂离子电池正极材料电化学性能测试 高温性能测试方法 1190.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 43093-2023 镍锰酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法 1050.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 43096-2023 金属粉末 稳态流动条件下粉末层透过性试验测定外比表面积 1470.0 付款后 1~5 个工作日 valid
GB/T 42907-2023 硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 1190.0 付款后 1~3 个工作日 valid
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