GB/T 4937.33-2025 英文版, GB/T 4937.33-2025 半导体器件机械和气候试验方法第33部分：加速耐湿无偏置高压蒸煮 - GB/T 4937.33-2025, GB 4937.33-2025, GBT 4937.33-2025, GB/T4937.33-2025, GB/T 4937.33, GB/T4937.33, GB4937.33-2025, GB 4937.33, GB4937.33, GBT4937.33-2025, GBT 4937.33, GBT4937.33

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GB/T 4937.33-2025 半导体器件机械和气候试验方法第33部分：加速耐湿无偏置高压蒸煮 (英文)
标准编号:	GB/T 4937.33-2025	标准状态:	to be valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	文件格式:	PDF

标准编号:	GB/T 4937.33-2025
中文名称:	半导体器件机械和气候试验方法第33部分：加速耐湿无偏置高压蒸煮
英文名称:	Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 33: Accelerated moisture resistance—Unbiased autoclave
中标分类:	L40 半导体分立器件综合
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	31.080.01 31.080.01 半导体器件综合 31.080.01
发布机构:	国家市场监督管理总局;国家标准化管理委员会
发布日期:	2025-12-2
实施日期:	2026-7-1
标准状态:	to be valid
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF

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