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GB/T 30866-2014   碳化硅单晶片直径测试方法 (英文)
标准编号: GB/T 30866-2014 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 文件格式:PDF
标准编号: GB/T 30866-2014
中文名称: 碳化硅单晶片直径测试方法
英文名称: Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers
行业分类: GB    国家标准
发布机构: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期: 2014-07-24
实施日期: 2015-2-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法
被替代日期:2026-2-1
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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