GB/T 14140-2025 英文版, GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法 - GB/T 14140-2025, GB 14140-2025, GBT 14140-2025, GB/T14140-2025, GB/T 14140, GB/T14140, GB14140-2025, GB 14140, GB14140, GBT14140-2025, GBT 14140, GBT14140

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GB/T 14140-2025 半导体晶片直径测试方法 (英文)
标准编号:	GB/T 14140-2025	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	文件格式:	PDF

标准编号:	GB/T 14140-2025
中文名称:	半导体晶片直径测试方法
英文名称:	Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
行业分类:	GB 国家标准
发布机构:	国家市场监督管理总局;国家标准化管理委员会
发布日期:	2025-8-1
实施日期:	2026-2-1
标准状态:	valid
替代旧标准:	GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法 GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF

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