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GB/T 24468-2025   半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法 (英文)
标准编号: GB/T 24468-2025 标准状态:to be valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
标准编号: GB/T 24468-2025
中文名称: 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法
英文名称: Test method for semiconductor equipment reliability; availability and maintainability(RAM)
行业分类: GB    国家标准
发布机构: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期: 2025-10-05
实施日期: 2026-5-1
标准状态: to be valid
替代旧标准:GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
翻译字数: 38000 字
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