GB/T 24468-2009 英文版, GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范 - GB/T 24468-2009, GB 24468-2009, GBT 24468-2009, GB/T24468-2009, GB/T 24468, GB/T24468, GB24468-2009, GB 24468, GB24468, GBT24468-2009, GBT 24468, GBT24468

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GB/T 24468-2009 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范 (英文)
标准编号:	GB/T 24468-2009	标准状态:	to be superseded 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF

标准编号:	GB/T 24468-2009
中文名称:	半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）的定义和测量规范
英文名称:	Specification for definition and measurement of semiconductor equipment reliability availability and maintainability(RAM)
中标分类:	L85 电子测量与仪器综合
行业分类:	GB 国家标准
ICS分类:	17.040.30 17.040.30 测量仪器仪表 17.040.30
发布机构:	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国家标准化管理委员会
发布日期:	2009-10-15
实施日期:	2009-12-1
标准状态:	to be superseded
被新标准替代:	GB/T 24468-2025 半导体设备可靠性、可用性和维修性（RAM）测量方法
被替代日期:	2026-5-1
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
翻译字数:	29000 字
交付时间:	1~3 个工作日

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