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GB 5257-1985   锗单晶少数载流子寿命直流光电导衰退测量方法 (英文)
标准编号: GB 5257-1985 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 文件格式:PDF
标准编号: GB 5257-1985
中文名称: 锗单晶少数载流子寿命直流光电导衰退测量方法
英文名称: Germanium single crystals--Measurement of minority carrier lifetime--DC photo conductive decay method
中标分类: H21    金属物理性能试验方法
行业分类: GB    国家标准
实施日期: 1986-7-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
被替代日期:1997-1-2
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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