| 标准编号 |
标准名称 |
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标准状态 |
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| DB52/T 1104-2016 |
半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法 |
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付款后 个工作日 |
valid,,2016-10-1 |
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| GB 12300-1990 |
功率晶体管安全工作区测试方法 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1990-8-1 |
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| GB 13151-1991 |
100A以上环境或管壳额定反向阻断三极晶闸管 空白详细规范 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-01,2005-10-1,1992-5-1 |
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| GB/T 11499-2001 |
半导体分立器件文字符号 |
2280.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2002-6-1 |
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| GB/T 12560-1999 |
半导体器件 分立器件分规范 |
960.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2000-3-1 |
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| GB/T 12561-1990 |
发光二极管空白详细规范(可供认证用) |
660.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2003-5-1,1991-10-1 |
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| GB/T 12847-1991 |
氢闸流管空白详细规范 (可供认证用) |
1520.0 |
付款后 个工作日 |
valid,,1991-1-2 |
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| GB/T 13063-1991 |
电流调整和电流基准工极管 空白详细规范 |
1960.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1992-3-1 |
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| GB/T 13066-1991 |
单结晶体管空白详细规范 |
1960.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1992-3-1 |
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| GB/T 13150-1991 |
100A以上环境或管壳额定双向三极晶闸管空白详细规范 |
660.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-01,2005-10-1,1992-5-1 |
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| GB/T 13150-2005 |
半导体器件 分立器件 电流大于100A、环境和管壳额定的双向三级晶闸管空白详细规范 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2005-10-1 |
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| GB/T 13151-2005 |
半导体器件 分立器件 第6部分：晶闸管 第三篇 电流大于100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2005-10-1 |
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| GB/T 13152-1991 |
5A/5A以上环境或管壳额定逆导三极晶闸管空白详细规范 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-12-15,,1992-5-1 |
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| GB/T 13153-1991 |
5A以上环境或管壳额定可关断晶闸管空白详细规范 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-12-15,,1992-5-1 |
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| GB/T 15177-1994 |
微波检波、混频二极管空白详细规范 |
1640.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1995-4-1 |
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| GB/T 15291-1994 |
半导体器件 第6部分 晶闸管 |
4800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-01-01 ,2017-1-1,1995-10-1 |
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| GB/T 15291-2015 |
半导体器件 第6部分：晶闸管 |
7680.0 |
付款后 1~10 个工作日 |
valid,,2017-1-1 |
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| GB/T 15292-1994 |
晶闸管测试方法 逆导三极晶闸管 |
240.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-12-15,,1995-10-1 |
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| GB/T 15293-1994 |
晶闸管测试方法 可关断晶闸管 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-12-15,,1995-10-1 |
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| GB/T 15449-1995 |
管壳额定开关用场效应晶体管空白详细规范 |
1200.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1995-8-1 |
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