标准编号:	JB/T 10034-1999
中文名称:	光栅角位移测量系统
英文名称:	Grating angular displacement measuring system
中标分类:	J42    量具与量仪
行业分类:	JB    机械行业标准
ICS分类:	25.060.20 25.060.20    分度和刀具/工件夹持装置 25.060.20
发布机构:	全国量具量仪标准化技术委员会
发布日期:	1999-5-20
实施日期:	2000-1-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统
被替代日期:	2012-11-1
作废日期:	2012-11-01
替代旧标准:	ZB J42040-1990
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	11000 字
翻译价格(元):	660.0
交付时间:	付款后 1~3 个工作日

JB/T 10034-1999 本标准是对 ZB J42 040-90《光栅角位移测量系统》的修订，修订时仅按有关规定作了编辑性修改，技术内容没有改变。 本标准规定了光栅角位移测量系统的基本参数、技术要求和基本试验方法。 本标准适用于分辨率为 0.1″～120″的测量系统。 本标准于 1990 年 9 月 28 日首次发布。