标准编号:	JB/T 10034-2012
中文名称:	光栅角位移测量系统
英文名称:	Grating angular displacement measuring system
中标分类:	J42    量具与量仪
行业分类:	JB    机械行业标准
ICS分类:	17.040.30 17.040.30    测量仪器仪表 17.040.30
发布机构:	中华人民共和国国家经济贸易委员会
发布日期:	2012-5-24
实施日期:	2012-11-1
标准状态:	valid
替代旧标准:	JB/T 10034-1999 光栅角位移测量系统
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	11000 字
翻译价格(元):	660.0
交付时间:	付款后 1~3 个工作日

本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″，准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统