T/CIE 144-2022 英文版, T/CIE 144-2022 半导体器件可靠性强化试验方法 - T/CIE 144-2022, T/CIET 144-2022, TCIET 144-2022, T/CIE144-2022, T/CIE 144, T/CIE144, T/CIET144-2022, T/CIET 144, T/CIET144, TCIET144-2022, TCIET 144, TCIET144

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T/CIE 144-2022 半导体器件可靠性强化试验方法 (英文)
标准编号:	T/CIE 144-2022	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF

标准编号:	T/CIE 144-2022
中文名称:	半导体器件可靠性强化试验方法
英文名称:	Reliability enhancement test of semiconductor devices
中标分类:	L05 可靠性和可维护性
行业分类:	T/ 团体标准
ICS分类:	31.020 31.020 电子元件综合 31.020
发布机构:	中国电子学会
发布日期:	2022-12-31
标准状态:	valid
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
翻译字数:	17000 字
交付时间:	1~3 个工作日

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