| 标准编号 |
标准名称 |
翻译价格(元) |
交付时间 |
标准状态 |
加入购物车 |
| DL/T 2343.1-2021 |
电能计量设备用元器件技术规范 第1部分：总则 |
1320.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2022-3-22 |
|
| DL/T 2343.2-2021 |
电能计量设备用元器件技术规范 第2部分：液晶显示器 |
1320.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2022-3-22 |
|
| GB 11113-1989 |
人造石英晶体中杂质的分析方法 |
180.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-12-15,,1990-3-1 |
|
| GB 11114-1989 |
人造石英晶体位错X射线形貌检测方法 |
240.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-12-15 ,,1990-3-1 |
|
| GB 11296-1989 |
红外探测材料型号命名方法 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1990-1-1 |
|
| GB 11297.10-1989 |
热释电材料居里温度Tc的测试方法 |
180.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2016-07-01,2016-7-1,1990-1-1 |
|
| GB 11297.11-1989 |
热释电材料介电常数的测试方法 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2016-07-01,2016-7-1,1990-1-1 |
|
| GB 11297.12-1989 |
电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方法 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2013-06-01,2013-6-1,1990-1-1 |
|
| GB 1772-1979 |
电子元器件失效率试验方法 |
|
付款后 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1980-3-1 |
|
| GB 2689.1-1981 |
恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 |
540.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1981-10-1 |
|
| GB 2689.2-1981 |
寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) |
800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1981-10-1 |
|
| GB 2689.3-1981 |
寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) |
700.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1981-10-1 |
|
| GB 2689.4-1981 |
寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) |
700.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1981-10-1 |
|
| GB 4965-1985 |
吸气剂分类及型号命名方法 |
310.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1985-1-1 |
|
| GB 50678-2011 |
废弃电器电子产品处理工程设计规范 |
4500.0 |
付款后 1~10 个工作日 |
valid,,2012-8-1 |
|
| GB 5076-1985 |
具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1985-12-1 |
|
| GB 5078-1985 |
单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1985-12-1 |
|
| GB 50781-2012 |
电子工厂化学品系统工程技术规范 |
300.0 |
付款后 1 个工作日 |
valid,,2012-12-1 |
|
| GB 5081-1985 |
电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南 |
230.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1986-1-1 |
|
| GB 5839-1986 |
电子管和半导体器件额定值制 |
200.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1986-12-1 |
|
* 相关标准数量: * 页面数: *
当前页: * 第一页
上一页
下一页
最后一页
|
|
