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SJ/T 10739-1996   半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理 (英文版)
标准编号: SJ/T 10739-1996 标准状态:abolished 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 28000 字 翻译价格(元):1680.0 订阅价格变动提醒
实施日期:1997-1-1 交付时间: 付款后 1~5 个工作日
标准编号: SJ/T 10739-1996
中文名称: 半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理
英文名称: Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for MOS random access memories
中标分类: G01    技术管理
行业分类: SJ    电子行业标准
发布日期: 1996-11-20
实施日期: 1997-1-1
标准状态: abolished
作废日期:2010-01-20
替代旧标准:GB 3443-1982
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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