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GB 3443-1982   半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 (英文版)
标准编号: GB 3443-1982 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 28000 字 翻译价格(元):3760.0 订阅价格变动提醒
实施日期:1983-10-1 交付时间: 付款后 1~5 个工作日
标准编号: GB 3443-1982
中文名称: 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
英文名称: General principles of measuring methods of MOS random access memory for semiconductor integrated circuits
中标分类: L56    半导体集成电路
行业分类: GB    国家标准
实施日期: 1983-10-1
标准状态: superseded
被新标准替代:SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理
被替代日期:1997-1-1
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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