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GB/T 4937-1995   半导体器件机械和气候试验方法 (英文版)
标准编号: GB/T 4937-1995 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 32000 字 翻译价格(元):2800.0 订阅价格变动提醒
实施日期:1996-8-1 交付时间: 付款后 1~5 个工作日
标准编号: GB/T 4937-1995
中文名称: 半导体器件机械和气候试验方法
英文名称: Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
中标分类: L40    半导体分立器件综合
行业分类: GB    国家标准
ICS分类: 31.080 31.080    半导体器件 31.080
发布机构: 国家技术监督局
发布日期: 1995-01-02
实施日期: 1996-8-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
被替代日期:2007-2-1
替代旧标准:GB 4937-1986
GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
GB 4937-1985 半导体分立器件机械和气候试验方法
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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