| 标准编号 |
标准名称 |
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| GB/T 1551-2009 |
硅单晶电阻率测定方法 |
1200.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2010-6-1 |
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| GB/T 12962-2005 |
硅单晶 |
540.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-01-01,2017-1-1,2006-4-1 |
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| GB/T 13389-2014 |
掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程 |
1740.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2015-9-1 |
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| YS/T 223-1996 |
硒 |
420.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2008-05-01,2008-5-1,1996-12-1 |
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| GB/T 12964-2018 |
硅单晶抛光片 |
770.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2019-6-1 |
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| GB/T 25076-2018 |
太阳能电池用硅单晶 |
770.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2019-6-1 |
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| GB/T 12963-2009 |
硅多晶 |
100.0 |
付款后 1 个工作日 |
superseded,2015-9-1,2010-6-1 |
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| GB/T 14140-2009 |
硅片直径测量方法 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2010-6-1 |
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| GB/T 1558-2009 |
硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2010-6-1 |
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| GB/T 35310-2017 |
200mm硅外延片 |
660.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2018-7-1 |
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| GB/T 14139-2009 |
硅外延片 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2020-05-01,2020-5-1,2010-6-1 |
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| GB/T 24582-2009 |
酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2010-6-1 |
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| YS/T 792-2012 |
单晶炉用碳/碳复合材料坩埚 |
720.0 |
付款后 1 个工作日 |
valid,,2013-3-1 |
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| YS/T 651-2007 |
二氧化硒 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2008-5-1 |
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| GB/T 12965-2005 |
硅单晶切割片和研磨片 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2019-6-1,2006-4-1 |
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| GB/T 20230-2006 |
磷化铟单晶 |
240.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2006-10-1 |
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| YS 68-2004 |
砷 |
240.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2015-04-01,2015-4-1,2004-11-1 |
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| GB/T 4061-2009 |
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2010-6-1 |
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| GB/T 17169-1997 |
硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法 |
1520.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1998-8-1 |
|
| GB/T 34479-2017 |
硅片字母数字标志规范 |
840.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2018-7-1 |
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