YD/T 3037.1-2023 英文版, YD/T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法第1部分：终端 - YD/T 3037.1-2023, YD 3037.1-2023, YDT 3037.1-2023, YD/T3037.1-2023, YD/T 3037.1, YD/T3037.1, YD3037.1-2023, YD 3037.1, YD3037.1, YDT3037.1-2023, YDT 3037.1, YDT3037.1

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YD/T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法第1部分：终端 (英文)
标准编号:	YD/T 3037.1-2023	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	2024-7-1

标准编号:	YD/T 3037.1-2023
中文名称:	通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法第1部分：终端
英文名称:	Test methods for Mass Storage characteristic between UICC and terminal interfacePart 1:Terminal
行业分类:	YD 通信行业标准
发布机构:	中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:	2023-12-29
实施日期:	2024-7-1
标准状态:	valid
替代旧标准:	YD/T 3037.1-2016 通用集成电路卡(UICC) 与终端间USB接口特性测试方法第1部分：终端
翻译语言:	英文

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