T/CIE 199-2023 英文版, T/CIE 199-2023 柔性半导体集成电路弯曲试验方法 - T/CIE 199-2023, T/CIET 199-2023, TCIET 199-2023, T/CIE199-2023, T/CIE 199, T/CIE199, T/CIET199-2023, T/CIET 199, T/CIET199, TCIET199-2023, TCIET 199, TCIET199

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T/CIE 199-2023 柔性半导体集成电路弯曲试验方法 (英文)
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翻译语言:	英文	文件格式:	PDF

标准编号:	T/CIE 199-2023
中文名称:	柔性半导体集成电路弯曲试验方法
英文名称:	Bending test methods of flexible semiconductor integrated circuit
行业分类:	T/ 团体标准
发布日期:	2023-12-29
实施日期:	2023-12-29
标准状态:	valid
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF

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