SJ 2354.7-1983 英文版, SJ 2354.7-1983 PIＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法 - SJ 2354.7-1983, SJ/T 2354.7-1983, SJT 2354.7-1983, SJ2354.7-1983, SJ 2354.7, SJ2354.7, SJ/T2354.7-1983, SJ/T 2354.7, SJ/T2354.7, SJT2354.7-1983, SJT 2354.7, SJT2354.7

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SJ 2354.7-1983 PIＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法 (英文)
标准编号:	SJ 2354.7-1983	标准状态:	superseded 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	1984-7-1

标准编号:	SJ 2354.7-1983
中文名称:	PIＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
英文名称:	Method of measurement for spectral response curve and spectral response range of PIN and avalanche photodiodes
中标分类:	F01 技术管理
行业分类:	SJ 电子行业标准
ICS分类:	31.260 31.260 光电子学、激光设备 31.260
发布机构:	电子工业部
发布日期:	1983-8-15
实施日期:	1984-7-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
被替代日期:	2015-10-1
翻译语言:	英文

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