SJ 2354.1-1983 英文版, SJ 2354.1-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则 - SJ 2354.1-1983, SJ/T 2354.1-1983, SJT 2354.1-1983, SJ2354.1-1983, SJ 2354.1, SJ2354.1, SJ/T2354.1-1983, SJ/T 2354.1, SJ/T2354.1, SJT2354.1-1983, SJT 2354.1, SJT2354.1

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SJ 2354.1-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则 (英文)
标准编号:	SJ 2354.1-1983	标准状态:	superseded 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:	1984-7-1

标准编号:	SJ 2354.1-1983
中文名称:	ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则
英文名称:	General procedures of measurement for electrical and optical parameters of PIN and avalanche photodiodes
中标分类:	F01 技术管理
行业分类:	SJ 电子行业标准
ICS分类:	31.260 31.260 光电子学、激光设备 31.260
发布机构:	电子工业部
发布日期:	1983-08-15
实施日期:	1984-7-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
被替代日期:	2015-10-1
翻译语言:	英文

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