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GB/Z 119-2026   晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测 (英文)
标准编号: GB/Z 119-2026 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 文件格式:PDF
标准编号: GB/Z 119-2026
中文名称: 晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测
英文名称: C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection
行业分类: GB    国家标准
发布机构: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期: 2026-01-04
实施日期: 2026-1-4
标准状态: valid
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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