标准编号:	GB/T 46223-2025
中文名称:	微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法
英文名称:	Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of energy resolution for electron energy loss spectrum analysis
中标分类:	N33    电子光学与其他物理光学仪器
行业分类:	GB    国家标准
ICS分类:	71.040.50 71.040.50    物理化学分析方 71.040.50
发布机构:	国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:	2025-8-29
实施日期:	2026-3-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF

本文件描述了配备电子能量损失谱仪(简称“能损谱仪”,EELS)的透射电子显微镜(TEM)或扫描透射电子显微镜(STEM)中电子能量损失谱(简称“能损谱”)能量分辨率的测定程序。
本文件适用于内置型和后置型的EELS,包括采用并行检测系统和串行检测系统的谱仪。