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GB/T 43748-2024   微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 (英文)
标准编号: GB/T 43748-2024 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 文件格式:PDF
标准编号: GB/T 43748-2024
中文名称: 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
英文名称: Microbeam analysis—Transmission electron microscopy—Method for measuring the thickness of functional thin films in integrated circuit chips
中标分类: N33    电子光学与其他物理光学仪器
行业分类: GB    国家标准
ICS分类: 71.040.50 71.040.50    物理化学分析方 71.040.50
发布机构: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期: 2024-3-15
实施日期: 2024-10-1
标准状态: valid
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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