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GB 4057-1983   硅单晶微缺陷的化学腐蚀检验方法 (英文)
标准编号: GB 4057-1983 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
翻译语言:英文 文件格式:PDF
标准编号: GB 4057-1983
中文名称: 硅单晶微缺陷的化学腐蚀检验方法
英文名称: Singie crystal sllicon-Detection of microdefects-Chemical etching technique
中标分类: H25    金属化学性能试验方法
行业分类: GB    国家标准
发布日期: 1983-12-20
实施日期: 1984-12-1
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
被替代日期:1995-12-1
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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