T/CIE 152-2022 英文版, T/CIE 152-2022 微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序 - T/CIE 152-2022, T/CIET 152-2022, TCIET 152-2022, T/CIE152-2022, T/CIE 152, T/CIE152, T/CIET152-2022, T/CIET 152, T/CIET152, TCIET152-2022, TCIET 152, TCIET152

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T/CIE 152-2022 微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序 (英文)
标准编号:	T/CIE 152-2022	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	实施日期:

标准编号:	T/CIE 152-2022
中文名称:	微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序
英文名称:	Test method and procedure for identification of physical characteristics of fake and counterfeit microelectronics devices
中标分类:	L74 程序语言
行业分类:	T/ 团体标准
ICS分类:	19.020 19.020 试验条件和规程综合 19.020
发布机构:	中国电子学会
发布日期:	2022-12-31
标准状态:	valid
翻译语言:	英文

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