SJ/T 2215-2015 英文版, SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法 - SJ/T 2215-2015, SJ 2215-2015, SJT 2215-2015, SJ/T2215-2015, SJ/T 2215, SJ/T2215, SJ2215-2015, SJ 2215, SJ2215, SJT2215-2015, SJT 2215, SJT2215

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SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法 (英文)
标准编号:	SJ/T 2215-2015	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
翻译语言:	英文	文件格式:	PDF

标准编号:	SJ/T 2215-2015
中文名称:	半导体光电耦合器测试方法
英文名称:	Measuring methods for semiconductor photocouplers
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布机构:	中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:	2015-04-30
实施日期:	2015-10-1
标准状态:	valid
替代旧标准:	SJ/T 2215.1~2215.14-1982 SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法 SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法 SJ 2215.9-1982 半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法 SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法 SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法 SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法 SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则 SJ 2215.10-1982 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法 SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法 SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法 SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF

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