| 标准编号 |
标准名称 |
交付时间 |
标准状态 |
| GB/T 17722-2026 |
微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 |
1~3 个工作日 |
to be valid,,2026-8-1 |
| GB/T 46223-2025 |
微束分析 分析电子显微术 电子能量损失谱能量分辨率的测定方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2026-3-1 |
| GB/T 20726-2025 |
微束分析 扫描电子显微镜（SEM）或电子探针显微分析仪（EPMA）用X射线能谱仪（EDS）主要性能参数及核查方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2026-3-1 |
| T/COEMA 22O-2025 |
光热透镜法弱吸收率测试仪 |
个工作日 |
valid,,2025-3-5 |
| GB/T 43883-2024 |
微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-11-1 |
| GB/T 43748-2024 |
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2024-10-1 |
| ZB N 33005-1988 |
光切显微镜 |
1~3 个工作日 |
superseded,2000-1-1,1989-7-1 |
| ZB N 33003-1988 |
罗盘仪 |
个工作日 |
superseded,2000-1-1,1989-7-1 |
| ZB N 33010-1989 |
激光喇曼分光光度计 |
个工作日 |
superseded,2000-1-1,1990-1-1 |
| ZB N 33008-1989 |
可见分光光度计 |
个工作日 |
superseded,2000-1-1,1990-1-1 |
| GB/T 43610-2023 |
微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-7-1 |
| GB/T 43087-2023 |
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 |
1~5 个工作日 |
valid,,2024-4-1 |
| GB/T 42208-2022 |
纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2023-7-1 |
| GB/T 15246-2022 |
微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 |
1~3 个工作日 |
valid,,2023-2-1 |
| DZ 0030-1992 |
XDY-1型双道原子荧光光度计技术条件 |
1~3 个工作日 |
valid,,1992-9-24 |
| DZ 0029-1992 |
HYX-3型微机X射线荧光仪 |
1~3 个工作日 |
valid,,1992-9-24 |
| JB/T 5522-1991 |
光学传递函数 用于35mm照相机用可换镜头 |
1~3 个工作日 |
valid,,1992-7-1 |
| GB/T 19500-2004 |
X-射线光电子能谱分析方法通则 |
1~3 个工作日 |
superseded,2026-1-1,2004-12-1 |
| JB/T 9322-1999 |
光谱投影仪 |
1~3 个工作日 |
abolished2010-01-20 ,,2000-1-1 |
| GB/T 17507-1998 |
电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件 |
1~3 个工作日 |
superseded,2009-3-1,1999-7-1 |
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