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标准名称 |
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| GA/T 1171-2014 |
芯片相似性比对检方方法 |
420.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2014-7-9 |
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| GB 11494-1989 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7698CP行场扫描及色处理电路 |
2920.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1990-3-1 |
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| GB 11495-1989 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7680CP图象伴音中频放大电路 |
2120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1990-3-1 |
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| GB 3430-1989 |
半导体集成电路型号命名方法 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2024-03-28,,1990-4-1 |
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| GB 3431.1-1982 |
半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 |
1960.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1983-10-1 |
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| GB 3431.2-1986 |
半导体集成电路文字符号 引出端功能符号 |
700.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1987-4-1 |
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| GB 3433-1982 |
半导体集成电路HTL电路系列和品种 |
1960.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,1983-10-1 |
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| GB 3436-1986 |
半导体集成电路运算放大器系列和品种 |
7120.0 |
付款后 1~10 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1987-8-1 |
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| GB 3437-1982 |
半导体集成电路MOS存储器系列和品种 |
3500.0 |
付款后 1~8 个工作日 |
valid,,1983-10-1 |
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| GB 3438-1982 |
半导体集成电路双极型存储器系列和品种 |
3220.0 |
付款后 1~8 个工作日 |
valid,,1983-10-1 |
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| GB 3439-1982 |
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 |
4240.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1983-10-1 |
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| GB 3440-1982 |
半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理 |
2280.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1983-10-1 |
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| GB 3441-1982 |
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理 |
2120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1983-10-1 |
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| GB 3442-1986 |
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 |
4080.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1987-7-1 |
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| GB 3443-1982 |
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 |
3760.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1983-10-1 |
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| GB 3444-1982 |
半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
4080.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1983-10-1 |
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| GB 4376-1984 |
半导体集成电路稳压器系列和品种 |
4480.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
superseded,1995-4-1,1985-2-1 |
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| GB 4377-1984 |
半导体集成电路 稳压器测试方法的基本原理 |
1640.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1985-2-1 |
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| GB 4590-1984 |
半导体集成电路机械和气候试验方法 |
6440.0 |
付款后 1~8 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1985-5-1 |
|
| GB 4719-1984 |
半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则 |
1480.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1985-6-1 |
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