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GA/T 1171-2014 |
芯片相似性比对检方方法 |
420.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2014-7-9 |
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GB 11494-1989 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7698CP行场扫描及色处理电路 |
2920.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1990-3-1 |
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GB 3430-1989 |
半导体集成电路型号命名方法 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1990-4-1 |
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GB 3431.1-1982 |
半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 |
1960.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1983-10-1 |
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GB 3431.2-1986 |
半导体集成电路文字符号 引出端功能符号 |
700.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1987-4-1 |
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GB 3440-1982 |
半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理 |
2280.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1983-10-1 |
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GB 3442-1986 |
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 |
4080.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,1987-7-1 |
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GB 4376-1984 |
半导体集成电路稳压器系列和品种 |
4480.0 |
付款后 1~8 个工作日 |
superseded,1995-4-1,1985-2-1 |
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GB 4719-1984 |
半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则 |
1480.0 |
付款后 个工作日 |
valid,,1985-6-1 |
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GB 4855-1984 |
半导体集成电路线性放大器系列和品种 |
900.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1985-10-1 |
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GB 5965-1986 |
半导体集成电路双极型门电路空白详细规范 |
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付款后 个工作日 |
valid,,1986-9-1 |
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GB 6305-1986 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路(可供认证用) |
2600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1986-12-1 |
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GB 6649-1986 |
半导体集成电路外壳总规范 |
1260.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,1987-8-1 |
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GB 6794-1986 |
半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 |
2440.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1987-7-1 |
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GB 6795-1986 |
半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理 |
2760.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1987-7-1 |
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GB 6796-1986 |
半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 |
3400.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1987-7-1 |
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GB 6798-1986 |
半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 |
2760.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1987-7-1 |
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GB 6799-1986 |
半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理 |
2600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1987-7-1 |
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GB 6800-1986 |
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1987-7-1 |
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GB 6815-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种 |
1000.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1987-8-1 |
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