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标准名称 |
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| GB 12199-1990 |
非广播盒式磁带录像机环境要求和试验方法 |
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付款后 个工作日 |
superseded,2001-5-1,1990-8-1 |
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| GB 8976-1988 |
膜集成电路和混合集成电路总规范 |
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付款后 个工作日 |
superseded,1997-1-1,1988-7-1 |
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| GB 9178-1988 |
集成电路术语 |
4740.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1988-10-1 |
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| GB/T 12750-1991 |
半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用) |
1020.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2007-02-01,2007-2-1,1991-1-1 |
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| GB/T 12842-1991 |
膜集成电路和混和膜集成电路术语 |
1140.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1991-1-2 |
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| GB/T 12843-1991 |
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 |
1960.0 |
付款后 1 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1991-1-2 |
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| GB/T 13062-1991 |
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序) |
420.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2019-07-01,2019-7-1,1992-3-1 |
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| GB/T 14028-1992 |
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 |
960.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2018-08-01,2018-8-1,1993-8-1 |
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| GB/T 14029-1992 |
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 |
960.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-8-1 |
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| GB/T 14030-1992 |
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-8-1 |
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| GB/T 14031-1992 |
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 |
840.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-8-1 |
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| GB/T 14032-1992 |
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 |
480.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-8-1 |
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| GB/T 14112-1993 |
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范 |
1080.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2016-01-01,2016-1-1,1993-8-1 |
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| GB/T 14113-1993 |
半导体集成电路封装术语 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-8-1 |
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| GB/T 14862-1993 |
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1994-9-1 |
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| GB/T 15138-1994 |
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸 |
1500.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1995-4-1 |
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| GB/T 15297-1994 |
微电路模块机械和气候试验方法 |
2280.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1995-7-1 |
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| GB/T 15876-1995 |
塑料四面引线扁平封装引线框架规范 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2016-01-01,2016-1-1,1996-8-1 |
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| GB/T 15878-1995 |
小外形封装引线框架规范 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2016-01-01,2016-1-1,1996-8-1 |
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| GB/T 15879-1995 |
半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2019-04-01 ,2019-4-1,1996-8-1 |
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