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SJ 53930/1-2002 半导体光电子器件GR8813型红外发射二极管详细规范 420.0 付款后 1~3 个工作日 valid
SJ 2658.7-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
GB/T 39771.2-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第2部分：测试方法 1120.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB 9492-1988 电子器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管 1520.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 36357-2018 中功率半导体发光二极管芯片技术规范 1190.0 付款后 1~5 个工作日 valid
SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.13-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.3-1986 半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
GB/T 36356-2018 功率半导体发光二极管芯片技术规范 1190.0 付款后 1~3 个工作日 valid
SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
GB/T 39771.1-2021 半导体发光二极管光辐射安全 第1部分：要求与等级分类方法 1190.0 付款后 1~3 个工作日 valid
SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则 60.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法 240.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
SJ 2658.2-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 180.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
GB 9493-1988 电子器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管 1640.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 36360-2018 半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范 996.0 付款后 1~3 个工作日 valid
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