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GB/T 13387-2009 硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 13388-2009 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 14139-2009 硅外延片 600.0 付款后 1~3 个工作日 superseded
GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 600.0 付款后 1~3 个工作日 superseded
GB/T 14264-1993 半导体材料术语 1140.0 付款后 1~3 个工作日 superseded
GB/T 14264-2009 半导体材料术语 2400.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 14844-1993 半导体材料牌号表示方法 300.0 付款后 1~3 个工作日 superseded
GB/T 14844-2018 半导体材料牌号表示方法 770.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 720.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 1200.0 付款后 1~3 个工作日 abolished
GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法 1200.0 付款后 1~3 个工作日 superseded
GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 720.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 1200.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 1558-2009 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范 290.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范 290.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法 780.0 付款后 1~3 个工作日 valid
GB/T 24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法 600.0 付款后 1~3 个工作日 valid
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