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| SJ 20183-1992 |
半导体分立器件 ３ＤＤ６型功率晶体管详细规范 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-5-1 |
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| SJ 20178-1992 |
半导体分立器件 ３ＣＫ３８型功率开关晶体管详细规范 |
480.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-5-1 |
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| SJ 20191-1992 |
CCK103型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-5-1 |
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| SJ 20203-1992 |
CTK4101型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器详细规范 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-5-1 |
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| SJ 2559-1984 |
Ｓ－１００总线规范 |
2400.0 |
付款后 1~8 个工作日 |
valid,,1985-10-1 |
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| SJ 152-75 |
电子计算机型号命名方法 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1976-2-1 |
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| SJ/T 10198-1991 |
ＴＪ２２２０微型化超级小型计算机 |
2600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2010-01-20,,1991-12-1 |
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| SJ/T 10508-1994 |
CYM1型薄膜介质预调可变电容器详细规范 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1994-10-1 |
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| SJ 20194-1992 |
ＣＣＫ４０２型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范 |
180.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-5-1 |
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| SJ/T 11092-1996 |
真空电容器引出环尺寸系列 |
1720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1997-1-1 |
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| GB/T 2007.4-2008 |
散装矿产品取样、制样通则 偏差、精密度校核试验方法 |
980.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2009-4-1 |
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| SJ/T 10601-1994 |
扬声器可靠性要求及试验方法 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1995-4-1 |
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| SJ/Z 9089.1-1987 |
数据交换用６．３０ｍｍ宽，密度为３９４磁通翻转／毫米，３９字符／毫米，成组编码记录的盒式磁带 |
2170.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,1987-11-27 |
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| SJ 20176-1992 |
半导体分立器件 3DG3439型和3DG3440型NPN硅小功率高反压晶体管详细规范 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-5-1 |
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| SJ/T 10509-1994 |
CYM2型薄膜介质预调可变电容器详细规范 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2017-05-12,,1994-10-1 |
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| SJ 20192-1992 |
CCK104型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-5-1 |
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| SJ 2716-1986 |
数字电子计算机系统的设计文件的成套和编制 |
2400.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1987-10-1 |
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| DZ/T 0101.6-1994 |
地质仪器仪表制造时间定额 钻床 |
1020.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1994-12-1 |
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| SJ 20211-1992 |
CYK2型有可靠性指标的云母固定电容器详细规范 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1993-5-1 |
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| SJ/T 10388-1993 |
电子工业专用设备可靠性术语 |
600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1994-1-1 |
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