| 标准编号 |
标准名称 |
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标准状态 |
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| GB 1205-1975 |
透镜边缘及中心最小厚度 |
720.0 |
付款后 个工作日 |
abolished2005-10-14 ,,1976-1-1 |
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| GB 1315-1977 |
光学零件薄膜的分类，符号及标注 |
140.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1978-1-1 |
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| GB 7667-1996 |
电子显微镜X射线泄漏剂量 |
300.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2004-05-01,2004-5-1,1996-12-1 |
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| GB 7667-2003 |
电子显微镜X射线泄漏剂量 |
150.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2004-5-1 |
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| GB/T 10050-2009 |
光学和光学仪器 参考波长 |
800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2009-12-1 |
|
| GB/T 10156-2009 |
水准仪 |
1920.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2009-12-1 |
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| GB/T 10987-2009 |
光学系统 参数的测定 |
660.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2009-12-1 |
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| GB/T 10988-2009 |
光学系统杂(散)光测量方法 |
1600.0 |
付款后 1~5 个工作日 |
valid,,2009-12-1 |
|
| GB/T 11162-2009 |
光学分划零件通用技术条件 |
1280.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2009-12-1 |
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| GB/T 11168-2009 |
光学系统像质测试方法 |
1280.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2009-12-1 |
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| GB/T 1146-2009 |
水准泡 |
1600.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2009-12-1 |
|
| GB/T 1204-1975 |
光学零件的倒角 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2007-09-29,2006-10-11,1976-1-1 |
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| GB/T 12085.1-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围 |
1080.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2023-5-1,2011-5-1 |
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| GB/T 12085.1-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第1部分：术语、试验范围 |
910.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2023-5-1 |
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| GB/T 12085.10-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验 |
800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2023-5-1,2011-5-1 |
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| GB/T 12085.11-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分：长霉 |
1080.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2023-5-1,2011-5-1 |
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| GB/T 12085.11-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第11部分：长霉 |
1050.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2023-5-1 |
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| GB/T 12085.12-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第12部分：污染 |
1080.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2023-5-1,2011-5-1 |
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| GB/T 12085.12-2022 |
光学和光子学 环境试验方法 第12部分：污染 |
1050.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2023-5-1 |
|
| GB/T 12085.13-2010 |
光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分：冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验 |
1080.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2023-5-1,2011-5-1 |
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