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标准名称 |
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| GA/T 1171-2014 |
芯片相似性比对检方方法 |
420.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2014-7-9 |
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| GB 11498-1989 |
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) |
480.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
superseded,2019-7-1,1990-4-1 |
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| GB 3430-1989 |
半导体集成电路型号命名方法 |
120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1990-4-1 |
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| GB 3431.2-1986 |
半导体集成电路文字符号 引出端功能符号 |
360.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1987-4-1 |
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| GB 4855-1984 |
半导体集成电路线性放大器系列和品种 |
900.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1985-10-1 |
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| GB 6800-1986 |
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理 |
720.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1987-7-1 |
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| GB 6815-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种 |
630.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1987-8-1 |
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| GB 9178-1988 |
集成电路术语 |
4740.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1988-10-1 |
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| GB 9425-1988 |
半导体集成电路运算放大器空白详细规范 |
420.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1989-2-1 |
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| GB/T 11498-2018 |
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) |
1190.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2019-7-1 |
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| GB/T 12750-1991 |
半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用) |
1020.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2007-02-01,2007-2-1,1991-1-1 |
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| GB/T 12750-2006 |
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路) |
1200.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2007-2-1 |
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| GB/T 12842-1991 |
膜集成电路和混和膜集成电路术语 |
1140.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,1991-1-2 |
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| GB/T 12843-1991 |
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 |
1960.0 |
付款后 1 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1991-1-2 |
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| GB/T 12844-1991 |
半导体集成电路非线性电路系列和品种采样/保持放大器的品种 |
1800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1991-1-2 |
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| GB/T 12845-1991 |
半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压频率和频率/电压转换器的品种 |
2280.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1991-1-2 |
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| GB/T 13062-1991 |
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序) |
420.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2019-07-01,2019-7-1,1992-3-1 |
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| GB/T 13062-2018 |
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序) |
1050.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
valid,,2019-7-1 |
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| GB/T 13064-1991 |
半导体集成电路系列和品种复印机用系列的品种 |
2120.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1992-3-1 |
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| GB/T 13068-1991 |
半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种 |
1800.0 |
付款后 1~3 个工作日 |
abolished2005-10-14,,1992-3-1 |
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