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T/IAWBS 002-2017   碳化硅外延片表面缺陷测试方法 (英文版)
标准编号: T/IAWBS 002-2017 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 15000 字 翻译价格(元):900.0 订阅价格变动提醒
实施日期:2017-12-31 交付时间: 付款后 1~3 个工作日
标准编号: T/IAWBS 002-2017
中文名称: 碳化硅外延片表面缺陷测试方法
行业分类: T/    团体标准
发布机构: 中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
发布日期: 2017-12-20
实施日期: 2017-12-31
标准状态: valid
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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