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SJ/T 2354-2015   ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法 (英文版)
标准编号: SJ/T 2354-2015 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 翻译价格(元):2240.0 订阅价格变动提醒
实施日期:2015-10-1 交付时间:
标准编号: SJ/T 2354-2015
中文名称: ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
英文名称: Measuring methods for photodiodes of PIN、APD
行业分类: SJ    电子行业标准
发布机构: 中华人民共和国工业和信息化部
发布日期: 2015-04-30
实施日期: 2015-10-1
标准状态: valid
替代旧标准:SJ/T 2354.1~2354.14-1983
SJ 2354.3-1983 PIＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
SJ 2354.13-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
SJ 2354.1-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则
SJ 2354.11-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法
SJ 2354.7-1983 PIＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
SJ 2354.10-1983 PIＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
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SJ 2354.8-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2354.5-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法
SJ 2354.2-1983 PIＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2354.9-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
SJ 2354.4-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
SJ 2354.6-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法
SJ 2354.12-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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