SJ/T 11399-2009 英文版, SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法 - SJ/T 11399-2009, SJ 11399-2009, SJT 11399-2009, SJ/T11399-2009, SJ/T 11399, SJ/T11399, SJ11399-2009, SJ 11399, SJ11399, SJT11399-2009, SJT 11399, SJT11399

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SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法 (英文版)
标准编号:	SJ/T 11399-2009	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF
中文字符数:	10000 字	翻译价格(元):	600.0 订阅价格变动提醒电子邮箱:
实施日期:	2010-1-1	交付时间:	付款后 1~3 个工作日

标准编号:	SJ/T 11399-2009
中文名称:	半导体发光二极管芯片测试方法
英文名称:	Measurement methods for chips of light emitting diodes
中标分类:	L45 微波、毫米波二、三极管
行业分类:	SJ 电子行业标准
ICS分类:	31.260 31.260 光电子学、激光设备 31.260
发布机构:	工业和信息化部
发布日期:	2009-11-17
实施日期:	2010-1-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	10000 字
翻译价格(元):	600.0
交付时间:	付款后 1~3 个工作日

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