SJ/T 10741-1996 英文版, SJ/T 10741-1996 半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 - SJ/T 10741-1996, SJ 10741-1996, SJT 10741-1996, SJ/T10741-1996, SJ/T 10741, SJ/T10741, SJ10741-1996, SJ 10741, SJ10741, SJT10741-1996, SJT 10741, SJT10741

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SJ/T 10741-1996 半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理 (英文版)
标准编号:	SJ/T 10741-1996	标准状态:	superseded 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF
中文字符数:	36000 字	翻译价格(元):	2520.0 订阅价格变动提醒电子邮箱:
实施日期:	1997-1-1	交付时间:	付款后 1~3 个工作日

标准编号:	SJ/T 10741-1996
中文名称:	半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
英文名称:	Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods for CMOS circuits
中标分类:	G01 技术管理
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布日期:	1996-11-20
实施日期:	1997-1-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	SJ/T 10741-2000 半导体集成电路ＣＭＯＳ电路测试方法的基本原理
被替代日期:	2001-3-1
替代旧标准:	GB 3834-1983 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	36000 字
翻译价格(元):	2520.0
交付时间:	付款后 1~3 个工作日

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