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SJ 2658.7-1986   半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 (英文版)
标准编号: SJ 2658.7-1986 标准状态:abolished 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 3000 字 翻译价格(元):180.0 订阅价格变动提醒
实施日期:1986-10-1 交付时间: 付款后 1~3 个工作日
标准编号: SJ 2658.7-1986
中文名称: 半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法
英文名称: Methods of Measurement for Semiconductor Infrared Diodes - Methods of Measurement for Radiant Flux
中标分类: L53    半导体发光器件
行业分类: SJ    电子行业标准
实施日期: 1986-10-1
标准状态: abolished
被新标准替代:SJ/T 2658.7-2015
被替代日期:2016-4-1
作废日期:2016-04-01
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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