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SJ 2327-1983   低温试验设备通用技术条件 (英文版)
标准编号: SJ 2327-1983 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 10000 字 翻译价格(元):600.0 订阅价格变动提醒
实施日期:1983-10-1 交付时间: 付款后 1~3 个工作日
标准编号: SJ 2327-1983
中文名称: 低温试验设备通用技术条件
英文名称: Generic specification for low temperature test chambers
中标分类: C01    技术管理
行业分类: SJ    电子行业标准
发布机构: 电子工业部
发布日期: 1983-4-11
实施日期: 1983-10-1
标准状态: valid
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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