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GB/T 4937.30-2018   半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 (英文版)
标准编号: GB/T 4937.30-2018 标准状态:valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
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实施日期:2019-1-1 交付时间: 付款后 1~3 个工作日
标准编号: GB/T 4937.30-2018
中文名称: 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
英文名称: Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30:Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
中标分类: L40    半导体分立器件综合
行业分类: GB    国家标准
ICS分类: 31.080.01 31.080.01    半导体器件综合 31.080.01
发布机构: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期: 2018-09-17
实施日期: 2019-1-1
标准状态: valid
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