标准编号:	GB/T 4326-2006
中文名称:	非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文名称:	Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
中标分类:	H21    金属物理性能试验方法
行业分类:	GB    国家标准
ICS分类:	77.040.01 77.040.01    金属材料试验综合 77.040.01
发布机构:	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期:	2006-7-18
实施日期:	2006-11-1
标准状态:	valid
替代旧标准:	GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符数:	12000 字
翻译价格(元):	1200.0
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本标准规定的测量方法适用于非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达104Ω·cm