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GB/T 1552-1995   硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 (英文版)
标准编号: GB/T 1552-1995 标准状态:superseded 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 16000 字 翻译价格(元):1360.0 订阅价格变动提醒
实施日期:1995-1-2 交付时间: 付款后 1~3 个工作日
标准编号: GB/T 1552-1995
中文名称: 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
英文名称: Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon and germanium with a collinear four-probe array
中标分类: H21    金属物理性能试验方法
行业分类: GB    国家标准
ICS分类: 77.040.30 77.040.30    金属材料化学分析 77.040.30
发布机构: 国家技术监督局
发布日期: 1995-04-18
实施日期: 1995-1-2
标准状态: superseded
被新标准替代:GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法
被替代日期:2010-6-1
替代旧标准:GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法
GB 5251-1985 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
GB 6615-1986 硅片电阻率的直排四探针测试方法
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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