SJ 20147.1-1992 英文版, SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法 - SJ 20147.1-1992, SJ/T 20147.1-1992, SJT 20147.1-1992, SJ20147.1-1992, SJ 20147.1, SJ20147.1, SJ/T20147.1-1992, SJ/T 20147.1, SJ/T20147.1, SJT20147.1-1992, SJT 20147.1, SJT20147.1

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SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法 (英文)
标准编号:	SJ 20147.1-1992	标准状态:	valid 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF

标准编号:	SJ 20147.1-1992
中文名称:	银和银合金镀覆层厚度测量方法 X射线荧光光谱法
英文名称:	Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness - Method by the X-ray fluorescent spectromentry
行业分类:	SJ 电子行业标准
发布机构:	中国电子工业总公司
发布日期:	1992-11-19
实施日期:	1993-5-1
标准状态:	valid
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF
翻译字数:	8000 字
交付时间:	1~3 个工作日

SJ 20147.1-1992被如下标准引用：

* SJ 20146-1992 银电镀层总规范

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