GB/T 8759-1988 英文版, GB/T 8759-1988 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 - GB/T 8759-1988, GB 8759-1988, GBT 8759-1988, GB/T8759-1988, GB/T 8759, GB/T8759, GB8759-1988, GB 8759, GB8759, GBT8759-1988, GBT 8759, GBT8759

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GB/T 8759-1988 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 (英文版)
标准编号:	GB/T 8759-1988	标准状态:	superseded 订阅状态变动提醒电子邮箱:
译文语言:	英文	文件格式:	PDF
中文字符数:		翻译价格(元):	订阅价格变动提醒电子邮箱:
实施日期:	1989-7-1	交付时间:

标准编号:	GB/T 8759-1988
中文名称:	化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法
英文名称:	Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method
中标分类:	H21 金属物理性能试验方法
行业分类:	GB 国家标准
实施日期:	1989-7-1
标准状态:	superseded
被新标准替代:	GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
被替代日期:	1998-8-1
作废日期:	1998-08-01
翻译语言:	英文
文件格式:	PDF

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