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GB/T 1553-2023   硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 (英文版)
标准编号: GB/T 1553-2023 标准状态:to be valid 订阅状态变动提醒
译文语言:英文 文件格式:PDF
中文字符数: 31000 字 翻译价格(元):2170.0 订阅价格变动提醒
实施日期:2024-3-1 交付时间: 付款后 1~5 个工作日
标准编号: GB/T 1553-2023
中文名称: 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
英文名称: Test methods for minority carrier lifetime in bulk silicon and germanium—Photoconductivity decay method
中标分类: H21    金属物理性能试验方法
行业分类: GB    国家标准
ICS分类: 77.040 77.040    金属材料试验 77.040
发布机构: 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期: 2023-08-06
实施日期: 2024-3-1
标准状态: to be valid
替代旧标准:GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
翻译语言: 英文
文件格式: PDF
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